Keolabs EMVCo L1测试系统，支持EMVCo L1非接卡和非接终端的射频和协议层测试，满足新的EMVCo规范要求，获得EMVCo组织授权许可，是业内首选的EMVCo测试设备。
EMVCo L1测试系统提供以下测试套件：
EMVCo Level 1 PICC Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Digital测试套件
EMVCo Level 1 Mobile Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Digital测试套件
EMVCo Level 1 Reduced Range Terminal Analog测试套件
EMV™是基于接触式和非接触式智能卡技术的支付卡和读卡器的全球标准。EMV规范包括由EMVCo管理的测试程序和合规流程，EMVCo是由美国运通、Discover、JCB、万事达、银联和Visa共同拥有和运营的组织。
我司提供KEOLABS根据EMVCo要求开发和认证的完整测试解决方案。
• EMV® Type Approval - Contactless Terminal Level 1
• EMV® Type Approval - Contactless Card Level 1
一套 SCRIPTIS™ 测试软件平台
一套EMVCo L1 PCD Analog测试案例库
一套EMVCo L1 PCD Digital测试案例库
一套EMVCo L1 Mobile Analog测试案例库
一台带PCD Analog和Digital 仿真的ProxiLAB QUEST
一套 EMVCo L1天线件套件包括如下：
• SC-EMVCo Test PICC V3.0：3个EMVCo PICC天线：13.56 MHz（class1)，16.1MHz（class1) ，13.56MHz（class3)。
• SC-EMVCo Test PCD V3.0：一个EMVCo PCD 天线。
• SC-EMVCo KIT：用于安装带有堆叠器的测试PCD的支架和1个CMR，用于调节信号并在其输入和输出之间切换，以进行测试台设置。
一套带有专用配件的5轴或6轴机械臂(可选)
一台有Xdev 选项的LeCroy 数字示波器
一台50W, 10-250 MHz 的功率放大器
此EMVCo L1 PICC Analog测试套件符合以下标准：EMVCo® PICC Level 1 Analog Test Cases – Version 3.2
我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例（支持版本3.2a）
PICC关机和开机状态字段
• §8.7.1.1. CA112.200 - 验证 A型通信的 PICC关机状态
• §8.7.1.1. CA112.200 - 验证 A型通信的 PICC开机状态
• §8.7.1.3. CB112.200 - 验证 B型通信的 PICC关机状态
• §8.7.1.4. CB113.200 - 验证 B类通信的 PICC开机状态
PICC对射频场的行为
• §8.7.2.1. CAB111.000 - 验证 PICC对现场的影响
PICC A型PICC的响应性
• §8.7.3.1. CA121.zrf - 在最小场强下验证PICC响应
• §8.7.3.2. CA122.zrf - 在最小场强下验证PICC响应
• §8.7.3.3. CA123.zrf - 在标称场强下验证PICC响应
• §8.7.3.4. CA124.200 - 以最小载波频率验证PICC 响应
• §8.7.3.5. CA125.200 - 以最大载波频率验证PICC 响应
• §8.7.3.6. CA126.z00 - 以最小时间t1 验证 PICC 响应
• §8.7.3.7. CA127.z00 - 以最大时间t1 验证 PICC 响应
验证A 型PICC 传输
• §8.7.4.1. CA131.zrf - 验证 A型 PICC负载调制
• §8.7.4.2. CA132.200 - 验证 PICC副载波频率和比特率
• §8.7.4.3. CA133.200 - 验证 PICC副载波调制
• §8.7.4.4. CA134.z00 - 验证 A型 PICC可检测干扰
A 型PICC的位级编码
• §8.7.5.1. CA143.200 - 验证位编码以及PICC 至 PCD的去同步
• §8.7.5.2. CA144.200 - 验证 A型 PICC计时
B型PICC的性能预验证试验
• §8.8.9.1 CB151.z00: A型
B型PICC的响应性
• §8.7.6.1. CB121.zrf - 验证在最小场强下的 PICC响应
• §8.7.6.2. CB122.zrf - 验证在最大场强下的 PICC响应
• §8.7.6.3. CB123.zrf - 验证在标称场强下的 PICC响应
• §8.7.6.4. CB124.200 - 验证在最小载频下的PICC响应
• §8.7.6.5. CB125.200 - 验证在最大载频下的PICC响应
• §8.7.6.6. CB126.z00 - 验证在最小 PCD调制指数下的PICC响应
• §8.7.6.7. CB127.z00 - 验证在最大 PCD调制指数下的PICC响应
• §8.7.6.8. CB128.z00 - 在最小场强、最大定时T1 下验证WUPA命令后PICC 的响应性
验证B型PICC传输
• §8.7.7.1. CB131.zrf - 验证 B型 PICC负载调制
• §8.7.7.2. CB132.200 - 验证 PICC副载波频率和比特率
• §8.7.7.3. CB133.200 - 验证 PICC副载波调制
• §8.7.7.4. CB134.z00 - 验证 B 型 PICC 可检测干扰
B型PICC的位级编码
• §8.7.8.1. CB143.200 - 验证同步、位编码以及PICC与至PCD的去同步
• §8.7.8.2. CB144.200 - 验证 PICC位边界
• §8.7.8.2. CB144.200 - 验证 B型 PICC计时
• §8.7.8.4. CB147.200 - 验证最大位边界
B型PICC的性能预验证试验
• §8.8.9.2 CB151.z00: B型
此EMVCo L1 PICC Digital测试套件符合以下标准：EMVCo® PICC Level 1 Protocol Digital Test Cases – Version 3.2
我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例（支持版本3.2a）
A型测试:
• §3.1. CA001, §3.2. CA002, §3.3. CA003, 基本 A型交换和计时测量
• §3.4. CA010.XY, §3.5. CA011.XY, §3.6. CA012.XY, PCD 至 PICC 具有最小和更长帧延迟时间的基本A型交换
• §3.7. CA116, §3.8. CA117, §3.9. CA118, 具有防碰撞状态机的 A 型正确安装
• §3.10. CA120.x, §3.11. CA121.x, §3.12. CA122.x, A 型 RATS 处理
• §3.13. CA126.x, §3.14. CA127.x, §3.15. CA128.x, A 型连续安装
• §3.16. CA130.x, §3.17. CA131.x, §3.18. CA132.x, A 型 REQA 命令处理
• §3.19. CA204.x - 在空闲状态下出现错误的A 型安装
• §3.20. CA206.xy - 在就绪状态下出现错误的A 型安装
• §3.21. CA207.xy - 在就绪’状态下出现错误的A 型安装
• §3.22. CA208.xy -在就绪’’状态下出现错误的A 型安装
• §3.23. CA216.xy, §3.24. CA217.xy, §3.25. CA218.xy, 在活动状态下出现错误的 A 型安装
• §3.26. CA226, §3.27. CA227, §3.28. CA228, 在活动状态之后的停机状态下出现错误的A 型安装
• §3.29. CA230, §3.30. CA231, §3.31. CA232, 在协议状态之后的停机状态下出现错误的A 型安装
• §3.32. CA233.x - 具有轮询和PICC 重置的A 型安装
B型测试:
• §4.1. CB001 - 基本B 型交换和计时测试
• §4.2. CB010.xy - PCD 至 PICC 具有最小和更长帧延时时间的基本B 型交换
• §4.3. CB010.xy - 支持最小SFGT PCD 至PICC 的基本B 型交换
• §4.4. CB021.x - EGTPCD 的最小值和最大值的基本B 型交换
• §4.5. CB025.x - 最小和最大持续时间为SoS 和EoS 的基本B 型交换
• §4.6. CB116 - 具有防碰撞状态机的B 型正确安装
• §4.7. CB126.x - 固定PUPI 的B 型连续安装
• §4.8. CB130.x - B 型 REQB 命令处理
• §4.9. CB150 - 在 ATTRIB 命令的高层INF 字段中发送C-APDU 的B 型正确安装
• §4.10. CB155.x - RFU 值或忽略值的B 型正确安装
• §4.11. CB204.x - 在空闲状态下出现错误的B 型安装
• §4.12. CB206.xy - 在就绪状态下出现错误的B 型安装
• §4.13. CB226.x - 在就绪状态之后的停机状态下出现错误的A 型安装
• §4.14. CB227.x - 在活动状态之后的停机状态下出现错误的B 型安装
• §4.15. CB228.x - 在停机状态想WUPA 命令的B 型安装
• §4.16. CB233.xy - 具有轮询和PICC 重置的B 型安装
块协议可执行程序测试:
• §5.1. CC001.x - 支持 EMV CL 轮询
• §5.2. CC110.x - 从 PCD 接收链接I 块
• §5.3. CC203.x - 不指示链接的I 块上的错误通知
• §5.4. CC206.xy - 接收到非链接I 块后的错误
• §5.5. CC207 - 管理S 块PCB 中的b2
• §5.6. CC210.xy - 接收到链式I-块后的错误通知和错误
• §5.7. CC233.xy - 具有 PICC 复位的块协议
• §5.8. CC241.x - 块协议期间的安装命令
• §5.9. CC245.x - 块协议开始期间的错误
此EMVCo L1 Mobile Analog测试套件与以下标准兼容：
EMVCo PICC Level 1 Analogue Test Cases – Version 3.2a
EMV Mobile L1 Test Guidelines – Version 3.2a
PICC关机和开机状态字段
• §8.7.1.1. CA112.200 - 验证 A型通信的 PICC关机状态
• §8.7.1.1. CA112.200 - 验证 A型通信的 PICC开机状态
• §8.7.1.3. CB112.200 - 验证 B型通信的 PICC关机状态
• §8.7.1.4. CB113.200 - 验证 B类通信的 PICC开机状态
PICC对射频场的行为
• §8.7.2.1. CAB111.000 - 验证 PICC对现场的影响
PICC A型PICC的响应性
• §8.7.3.1. CA121.zrf - 在最小场强下验证PICC响应
• §8.7.3.2. CA122.zrf - 在最小场强下验证PICC响应
• §8.7.3.3. CA123.zrf - 在标称场强下验证PICC响应
• §8.7.3.4. CA124.200 - 以最小载波频率验证PICC 响应
• §8.7.3.5. CA125.200 - 以最大载波频率验证PICC 响应
• §8.7.3.6. CA126.z00 - 以最小时间t1 验证 PICC 响应
• §8.7.3.7. CA127.z00 - 以最大时间t1 验证 PICC 响应
验证A 型PICC 传输
• §8.7.4.1. CA131.zrf - 验证 A型 PICC负载调制
• §8.7.4.2. CA132.200 - 验证 PICC副载波频率和比特率
• §8.7.4.3. CA133.200 - 验证 PICC副载波调制
• §8.7.4.4. CA134.z00 - 验证 A型 PICC可检测干扰
A 型PICC的位级编码
• §8.7.5.1. CA143.200 - 验证位编码以及PICC 至 PCD的去同步
• §8.7.5.2. CA144.200 - 验证 A型 PICC计时
B型PICC的响应性
• §8.7.6.1. CB121.zrf - 验证在最小场强下的 PICC响应
• §8.7.6.2. CB122.zrf - 验证在最大场强下的 PICC响应
• §8.7.6.3. CB123.zrf - 验证在标称场强下的 PICC响应
• §8.7.6.4. CB124.200 - 验证在最小载频下的PICC响应
• §8.7.6.5. CB125.200 - 验证在最大载频下的PICC响应
• §8.7.6.6. CB126.z00 - 验证在最小 PCD调制指数下的PICC响应
• §8.7.6.7. CB127.z00 - 验证在最大 PCD调制指数下的PICC响应
• §8.7.6.8. CB128.z00 - 在最小场强、最大定时T1 下验证WUPA命令后PICC 的响应性
验证B型PICC传输
• §8.7.7.1. CB131.zrf - 验证 B型 PICC负载调制
• §8.7.7.2. CB132.200 - 验证 PICC副载波频率和比特率
• §8.7.7.3. CB133.200 - 验证 PICC副载波调制
• §8.7.7.4. CB134.z00 - 验证 B 型 PICC 可检测干扰
B型PICC的位级编码
• §8.7.8.1. CB143.200 - 验证同步、位编码以及PICC与至PCD的去同步
• §8.7.8.2. CB144.200 - 验证 PICC位边界
• §8.7.8.2. CB144.200 - 验证 B型 PICC计时
• §8.7.8.4. CB147.200 - 验证最大位边界
支持Python编辑修改脚本
Scriptis保存测试日志：TXT格式
Scriptis保存测试日志：xgpa格式
Scriptis保存测试日志：xdada格式
Scriptis支持导出报表：PDF格式
Scriptis支持导出报表：html格式
我司提供的Keolabs测试系统支持验证以下标准：
• EMV® Type Approval - Contactless Terminal Level 1
• EMV® Type Approval - Contactless Card Level 1
• NFC Forum Test Cases for Analog and Digital Protocol
• ISO/IEC 10373-6 Test Methods
• ISO/IEC 18745-2 Test Methods for the contactless interface
• CEN/TS 16794-2:2017 Public transport - Communication between contactless readers and fare media - Part 2: Test plan for ISO/IEC 14443
KEOLABS提供完整的测试解决方案，支持根据特定应用类型的行业标准对智能卡和读卡器进行内部验证，包括：
• 支付：验证您付款申请的合格解决方案 - 由EMVCo实验室使用
EMVCo Level 1 PCD Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Digital测试套件
EMVCo Level 1 Reduced Range Terminal Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Digital测试套件
EMVCo Level 1 Mobile Analog测试套件
• 电子护照和eID产品：验证您的身份申请的解决方案 - 由National Printing Companies使用
ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Analog测试套件
ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Digital测试套件
ePassport-eMRTD Application测试套件
eID-应用程序EAC V2和IAS ECC测试套件
eDL-应用ISO 18013-4测试套件
• 访问控制、交通和智能对象：验证您的交通或访问控制应用程序的解决方案 - 由交通运营商使用
ISO 10373-6 PICC Analog测试套件
ISO 10373-6 PICC Digital测试套件
ISO 10373-6 PCD Analog测试套件
ISO 10373-6 PCD Digital测试套件
• 移动、汽车制造商：验证NFC应用的合格解决方案 - 供移动或汽车制造商使用
NFC Forum Poller&Listener Analog测试套件
NFC Forum Poller&Listener Digital测试套件
NFC Forum Initiator&Target Applicative LLCP/SNEP测试套件
当前产品：EMVCo L1非接卡测试系统
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