Keolabs EMVCo L1测试系统,支持EMVCo L1非接卡和非接终端的射频和协议层测试,满足新的EMVCo规范要求,获得EMVCo组织授权许可,是业内首选的EMVCo测试设备。
EMVCo L1测试系统提供以下测试套件:
EMVCo Level 1 PICC Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Digital测试套件
EMVCo Level 1 Mobile Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Digital测试套件
EMVCo Level 1 Reduced Range Terminal Analog测试套件
EMV™是基于接触式和非接触式智能卡技术的支付卡和读卡器的全球标准。EMV规范包括由EMVCo管理的测试程序和合规流程,EMVCo是由美国运通、Discover、JCB、万事达、银联和Visa共同拥有和运营的组织。
我司提供KEOLABS根据EMVCo要求开发和认证的完整测试解决方案。
• EMV® Type Approval - Contactless Terminal Level 1
• EMV® Type Approval - Contactless Card Level 1
一套 SCRIPTIS™ 测试软件平台
一套EMVCo L1 PICC Analog测试案例库
一套EMVCo L1 PICC Digital测试案例库
一套EMVCo L1 Reduced Range Terminal Analog测试案例库
一台带PICC Analog和Digital 仿真的ProxiLAB QUEST
一套 EMVCo L1天线件套件包括如下:
• SC-EMVCo Test PICC V3.0:3个EMVCo PICC天线:13.56 MHz(class1),16.1MHz(class1) ,13.56MHz(class3)。
• SC-EMVCo Test PCD V3.0:一个EMVCo PCD 天线。
• SC-EMVCo KIT:用于安装带有堆叠器的测试PCD的支架和1个CMR,用于调节信号并在其输入和输出之间切换,以进行测试台设置。
一套带有专用配件的5轴或6轴机械臂(可选)
一台有Xdev 选项的LeCroy 数字示波器
一台50W, 10-250 MHz 的功率放大器
此EMVCo L1 PCD Analog测试套件符合以下标准:EMVCo® Type Approval Contactless Terminal Level1 PCD Analog Test Cases - Version 3.1
我们对本测试规范的涵盖范围包括以下测试用例(根据EMVCo 3.1a版本编号):
射频功率
• §8.8.1.1. TAB111.x.1.zrf – 验证 PCD带 PICC的电源传输
• §8.8.1.2. TAB112.1.1.200 – 验证 PCD载波频率
• §8.8.1.3. TAB113.0.0.z00 – 验证 PCD操作区域重置
• §8.8.1.4. TAB114.0.0.200 – 验证操作区域的 PCD电源关闭
• §8.8.1.5. TAB115.1.3.200 – 轮询时序列支持其他技术
A型通信的PCD 至PICC信号接口
• §8.8.2.1. TA121.z00 - 验证 t1 时序
• §8.8.2.2. TA122.z00 - 验证从 V4到 V2的单调递减
• §8.8.2.3. TA123.z00 - 验证铃声
• §8.8.2.4. TA124.z00 - 验证 t2 时序
• §8.8.2.5. TA125.z00 - 验证 t3和 t4 时序
• §8.8.2.6. TA127.z00 - 验证从 V2 到 V4 的单调递增
• §8.8.2.7. TA128.z00 - 检验超调量
A型通信的PICC 至PCD信号接口
• §8.8.3.1. TA131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.2. TA132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.3. TA133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.4. TA134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.5. TA135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.6. TA136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.7. TA137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.8. TA138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.9. TA139.000 - 验证FDTA,PICC公差
A型通信的位级编码信号接口
• §8.8.4.1. TA141.200 - 验证PCD传输的比特率
• §8.8.4.2. TA142.200 - 验证位编码和 PCD 至PICC的去同步
• §8.8.4.3. TA143.200 - 验证位编码和 PICC 至PCD的去同步
用于A类通信的PCD IQ解调
• §8.8.8.1. TA151.5.4.200 验证 PCD IQ解调
B型通信的PCD至PICC信号接口
• §8.8.5.1. TB121.z00 - 验证调制指数
• §8.8.5.2. TB122.z00 - 验证下降时间
• §8.8.5.3. TB123.z00 - 验证上升时间
• §8.8.5.4. TB124.z00 - 验证单调上升沿
• §8.8.5.5. TB125.z00 - 验证单调下降沿
• §8.8.5.6. TB126.z00 - 验证超调量
• §8.8.5.7. TB127.z00 - 验证未及点
B型通信的PICC 至PCD信号接口
• §8.8.6.1. TB131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.2. TB132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.6.3. TB133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.4. TB134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.6.5. TB135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.6. TB136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.6.7. TB137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.8. TB138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2,pp
用于B型通信的比特级编码信号接口
• §8.8.7.1. TB141.1.3.200 - 验证 PCD传输的比特率
• §8.8.7.2. TB142.1.3.200 - 验证 PCD与 PICC的同步、位编码和去同步
• §8.8.7.3. TB145.1.3.200 - 验证 PICC到 PCD的最大不同步限制(tFSOFF,MAX)
• §8.8.7.4. TB147.1.3.200 - 用 B类通信验证比特边界
• §8.8.7.5. TB148.1.3.200 - 验证 PICC到 PCD的最小失步限制(tFSOFF,MIN)
用于B型通信的PCD IQ解调
• §8.8.9.1. TB151.5.4.200 验证 PCD IQ解调
此EMVCo L1 PCD Digital测试套件符合以下标准:EMVCo® Type Approval Contactless Terminal Level1 PCD Digital Test Cases - Version 3.1
我们对本测试规范的覆盖范围包括以下测试用例(根据EMVCo版本3.1a进行编号):
A型测试
• §4.1. TA001 -基本 A类交换(单尺寸UID)和计时测量
• §4.2. TA002 – A型正确移除
• §4.3. TA003.x - 基于 A类交换机的PCD到PICC的最小和默认最大帧延迟时间
• §4.4. TA101.x - 具有双倍和三倍UID大小的A型安装
• §4.5. TA102.x - 支持 ATQA值的A型安装
• §4.6. TA103.x - 支持 SAK 和ATS 的TA(1)字节值的A 型安装
• §4.7. TA104.xy - 支持 ATS的TL字节(和历史字节)值的A 型安装
• §4.8. TA105.xy - 在 ATS的 TB(1)字节中支持SFGI值的A 型安装
• §4.9. TA106.x - 支持 ATS的TC(1)字节值的A型安装
• §4.10. TA108 - 使用响应HLTA命令的A型框架的A 型安装
• §4.11. TA110.x - 具有不同ATQA值的A型安装
• §4.12 TA112.x - 每次PICC响应后出现“噪音”的A类安装
• §4.13. TA201.xy - A类无错误的非链式I-Block交换所有可能的FWT值
• §4.14. TA202.xy - 类型 A对于FSC的不同值在两个方向上的无错误链式I-Block
• §4.15. TA203.xy - 类型 A FSC=16到256字节的无错误链式I-Block传输
• §4.16. TA204 - A型无错误请求在非链式I-Block上延长帧等待时间
• §4.17. TA205 - 类型A双向链接期间帧等待时间扩展的无错误请求
• §4.18. TA206 - 具有不同FSD值的两个方向上的A类无错误链式I-Block
• §4.19. TA210 - 具有罕见帧大小的A类无差错链式I-Block接收
• §4.20. TA215.x - 对于不同的帧等待时间值,具有最小帧延迟时间PCD到PICC的A类无错误交换
• §4.21. TA216.x 每次 PICC响应后,A类I-Block交换和请求具有“噪声”的帧等待时间延长
• §4.22. TA301.xy – 在 WUPA后出现错误的A类轮询
• §4.23. TA302.xy - 防撞 CL1之后出错的A类碰撞检测
• §4.24. TA303 - 检测A型然后B型PICC的A型轮询
• §4.25. TA304.xy – 在 WUPA后出现错误的A类碰撞检测
• §4.26. TA305.xy – 在选择 CL1后出现一个错误的A类碰撞检测
• §4.27. TA306.xy – 在 RATS后出现错误的A型激活
• §4.28. TA307.x – 在 RATS后用“噪音”激活A型
• §4.29. TA310 - 在防撞CL1后超时的 A类碰撞检测
• §4.30. TA311.x – 在 WUPA后超时的A类碰撞检测
• §4.31. TA312 – 在选择CL1后超时的A类碰撞检测
• §4.32. TA313 – 在 RATS后超时的A型激活
• §4.33. TA335.xy – 在 RATS后用EMD抑制行为所对应的A型激活
• §4.34. TA340.x - 在 RAT后“失聪时间”锁对应的A型激活
• §4.35. TA401.xy – 在不指示链接的I-Block上的A型错误通知
• §4.36. TA402 - 在不指示链接的I-Block上的A型超时
• §4.37. TA403.x - 在不指示链接的I-Block上的A型传输错误
• §4.38. TA404.x - 在不指示链接的I-Block上的A型协议错误
• §4.39. TA405.xy - 指示链接的I-Block上的A型错误通知
• §4.40. TA406 - 指示链接的I-Block上的A型超时
• §4.41. TA407.x - 指示链接的I-Block上的A型传输错误
• §4.42. TA408.xy - 指示链接的I-Block上的A型协议通知
• §4.43. TA409.xy – 在 R(ACK)块后的A型超时(即错误通知)
• §4.44. TA410.x – 响应 R(ACK)块的A型传输错误
• §4.45. TA411.xy - 响应 R(ACK)块的A类协议错误
• §4.46. TA412.xy – 在 S(WTX)响应块(WTXM的几个值)之后的A型单个超时
• §4.47. TA413 - 在单个S(WTX)请求后FWT扩展 的A型重复使用
• §4.48. TA414.x - 响应于未指示链接的I-Block的A型“噪声”
• §4.49. TA415.x - 响应于指示链接的I-Block的A型“噪声”
• §4.50. TA416.x - 响应R(ACK)块的A型“噪声”
• §4.51. TA417.xy - 响应发送来通知传输错误的R(NAK)块的A型协议错误
• §4.52. TA420 - 在 WUPA后出现错误的A 型删除
• §4.53. TA421 - 在S(WTX) 响应块后的A 型连续超时
• §4.54. TA430.xy - 关于 EMD抑制行为的A型块协议
• §4.55. TA435.x - 关于EMD抑制行为的A型块协议
• §4.56. TA440 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误,以响应不指示链接的I-Block
• §4.57. TA441 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误,以响应指示链接的I-Block
• §4.58. TA442 - 序列的前4个字节的A 型奇偶校验错误,以响应R(ACK)块
• §4.59. TA443 - 序列的前4个字节中的A 型奇偶校验错误,以响应S(WTX)响应块
B型测试:
• §5.1. TB000 - B型预试验确定TR1PUTMIN
• §5.2. TB001 - 基本B型交换和计时测量
• §5.3. TB002.x - 支持 SoS和EoS 的基本B类交换
• §5.4. TB003 - B型正确移除
• §5.5. TB004.x - 基于 B 型交换的PCD 至PICC的最小和默认最大帧延迟时间
• §5.6. TB006.x - 基于 B 型交换的PCD 至PICC的最小和默认最大帧延迟时间
• §5.7. TB101.x - 支持 ADC值的B型安装
• §5.8. TB102.x - 支持 ADC值的B型安装
• §5.9. TB104.x - 支持比特率功能值的B 型安装
• §5.10. TB106.x - 支持ADF 值的B 型安装
• §5.11. TB107.x - 支持协议类型b4-b2值的B 型安装
• §5.12. TB108.x - 支持MBLI 值的B 型安装
• §5.13. TB110.x - 具有不同ATQB值的B型安装
• §5.14. TB201.xy - 为所有可能的FWT 值的B型无错误非链式I-Block交换
• §5.15. TB202.xy - 为所有可能的FWT 值的B型无错误非链式I-Block交换
• §5.16. TB203.xy - 为 FSC=16 至128字节的B 型无错误链式I-Block传输
• §5.17. TB204 - 非链式I-Block上的帧等待时间延长的B 型无错误请求
• §5.18. TB205 - 在双向链接期间帧等待时间延长的B 型无错误请求
• §5.19. TB206 - 具有不同FSD值的两个方向上的B型无错误链式I-Block
• §5.20. TB210 - 具有罕见帧大小的B 型无差错链式I-Block接收
• §5.21. TB215.x - 针对不同的帧等待时间值,有PCD 至PICC的最小帧延迟时间的B型无差错交换
• §5.22. TB301.xy - 在 WUPB之后出现错误的B 型轮询
• §5.23. TB303 - 检测B型然后A型PICC 的B型轮询
• §5.24. TB304.xy - 在 WUPB后出现错误的B 型碰撞检测
• §5.25. TB305.x - 在 ATTRIB后用“噪声”激活B型
• §5.26. TB306.xy - 在 ATTRIB后出现错误的B型激活
• §5.27. TB311.x - 在 WUPB后超时的B 型碰撞检测
• §5.28. TB312.x - 在 ATTRIB后超时的B型激活
• §5.29 TB335.xy - 在 ATTRIB后用EMD抑制行为所对应的B型激活
• §5.30. TB340.x - 在 ATTRIB后“失聪时间”所对应的B 型激活
• §5.31. TB401.xy - 在不指示链接的I-Block上的B 型错误通知
• §5.32. TB402 - 在I-Block不指示链接之后的B 型超时
• §5.33. TB403.x - 不指示链接的I-Block所对应的B型传输错误
• §5.34. TB404.xy -不指示链接的I-Block所对应的B 型协议错误
• §5.35. TB405.xy - I-Block 指示链接上的 B型错误通知
• §5.36. TB406 - I-Block 指示链接之后的B 型超时
• §5.37. TB407 - 响应指示链接的I-Block的B型传输错误
• §5.38. TB408.xy - 响应 I-Block指示链接的B 型协议错误
• §5.39. TB409.xy - 在 R(ACK)块后的B 型超时(即错误通知)
• §5.40. TB410.x - 响应于R(ACK)块的B型传输错误
• §5.41. TB411.xy - 响应 R(ACK)块时的B 型协议错误
• §5.42. TB412.xy - 在 S(WTX)响应块(WTXM的几个值)之后的B型单个超时
• §5.43. TB413 - 在单个S(WTX)请求后FWT扩展的B 型重复使用
• §5.44. TB414.x - 响应I-Block不指示链接的B 型“噪声”
• §5.45. TB415.x - 响应I-Block指示链接的B 型’噪声
• §5.46. TB415.x -响应于R(ACK)块的B 型“噪声”
• §5.47. TB417.xy - 响应发送来通知传输错误的R(NAK)块的B 型协议错误
• §5.48. TB420 - 在 WUPB后出现错误的B 型删除
• §5.49. TB421 - 在 S(WTX)响应块后的B型连续超时
• §5.50. TB430.xy - 关于 EMD抑制行为的B型块协议
• §5.51. TB435.x - 关于“失聪时间”的B 型块协议
此EMVCo PCD模拟测试套件与以下标准兼容:EMVCo PCD Level 1Analogue Test Cases – Version 3.1a 和 EMV RR L1 Test Guidelines – Version 3.1a
该测试套件还包括基于“EMV Terminal Type Approval Bulletin No. 276, First Edition April 2024 – Reduced Range Devices Acceptance Criteria“的EMVCo认证评分工具。
我们对本测试规范的涵盖范围包括以下测试用例(根据EMVCo 3.1a版本编号):
射频功率
• §8.8.1.1. TAB111.x.1.zrf – 验证 PCD带 PICC的电源传输
• §8.8.1.2. TAB112.1.1.200 – 验证 PCD载波频率
• §8.8.1.3. TAB113.0.0.z00 – 验证 PCD操作区域重置
• §8.8.1.4. TAB114.0.0.200 – 验证操作区域的 PCD电源关闭
• §8.8.1.5. TAB115.1.3.200 – 轮询时序列支持其他技术
A型通信的PCD 至PICC信号接口
• §8.8.2.1. TA121.z00 - 验证 t1 时序
• §8.8.2.2. TA122.z00 - 验证从 V4到 V2的单调递减
• §8.8.2.3. TA123.z00 - 验证铃声
• §8.8.2.4. TA124.z00 - 验证 t2 时序
• §8.8.2.5. TA125.z00 - 验证 t3和 t4 时序
• §8.8.2.6. TA127.z00 - 验证从 V2 到 V4 的单调递增
• §8.8.2.7. TA128.z00 - 检验超调量
A型通信的PICC 至PCD信号接口
• §8.8.3.1. TA131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.2. TA132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.3. TA133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.4. TA134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.5. TA135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.6. TA136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.7. TA137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.3.8. TA138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.3.9. TA139.000 - 验证FDTA,PICC公差
A型通信的位级编码信号接口
• §8.8.4.1. TA141.200 - 验证PCD传输的比特率
• §8.8.4.2. TA142.200 - 验证位编码和 PCD 至PICC的去同步
• §8.8.4.3. TA143.200 - 验证位编码和 PICC 至PCD的去同步
用于A类通信的PCD IQ解调
• §8.8.8.1. TA151.5.4.200 验证 PCD IQ解调
B型通信的PCD至PICC信号接口
• §8.8.5.1. TB121.z00 - 验证调制指数
• §8.8.5.2. TB122.z00 - 验证下降时间
• §8.8.5.3. TB123.z00 - 验证上升时间
• §8.8.5.4. TB124.z00 - 验证单调上升沿
• §8.8.5.5. TB125.z00 - 验证单调下降沿
• §8.8.5.6. TB126.z00 - 验证超调量
• §8.8.5.7. TB127.z00 - 验证未及点
B型通信的PICC 至PCD信号接口
• §8.8.6.1. TB131.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.2. TB132.zrf - 验证最小正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.6.3. TB133.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.4. TB134.zrf - 验证最大正调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.6.5. TB135.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.6. TB136.zrf - 验证最小负调制下的负载调制VS2,pp
• §8.8.6.7. TB137.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS1,pp
• §8.8.6.8. TB138.zrf - 验证最大负调制下的负载调制VS2,pp
用于B型通信的比特级编码信号接口
• §8.8.7.1. TB141.1.3.200 - 验证 PCD传输的比特率
• §8.8.7.2. TB142.1.3.200 - 验证 PCD与 PICC的同步、位编码和去同步
• §8.8.7.3. TB145.1.3.200 - 验证 PICC到 PCD的最大不同步限制(tFSOFF,MAX)
• §8.8.7.4. TB147.1.3.200 - 用 B类通信验证比特边界
• §8.8.7.5. TB148.1.3.200 - 验证 PICC到 PCD的最小失步限制(tFSOFF,MIN)
用于B型通信的PCD IQ解调
• §8.8.9.1. TB151.5.4.200 验证 PCD IQ解调
支持Python编辑修改脚本
Scriptis保存测试日志:TXT格式
Scriptis保存测试日志:xgpa格式
Scriptis保存测试日志:xdada格式
Scriptis支持导出报表:PDF格式
Scriptis支持导出报表:html格式
我司提供的Keolabs测试系统支持验证以下标准:
• EMV® Type Approval - Contactless Terminal Level 1
• EMV® Type Approval - Contactless Card Level 1
• NFC Forum Test Cases for Analog and Digital Protocol
• ISO/IEC 10373-6 Test Methods
• ISO/IEC 18745-2 Test Methods for the contactless interface
• CEN/TS 16794-2:2017 Public transport - Communication between contactless readers and fare media - Part 2: Test plan for ISO/IEC 14443
KEOLABS提供完整的测试解决方案,支持根据特定应用类型的行业标准对智能卡和读卡器进行内部验证,包括:
• 支付:验证您付款申请的合格解决方案 - 由EMVCo实验室使用
EMVCo Level 1 PCD Analog测试套件
EMVCo Level 1 PCD Digital测试套件
EMVCo Level 1 Reduced Range Terminal Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Analog测试套件
EMVCo Level 1 PICC Digital测试套件
EMVCo Level 1 Mobile Analog测试套件
• 电子护照和eID产品:验证您的身份申请的解决方案 - 由National Printing Companies使用
ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Analog测试套件
ISO 10373-6/ISO 18745-2 PICC Digital测试套件
ePassport-eMRTD Application测试套件
eID-应用程序EAC V2和IAS ECC测试套件
eDL-应用ISO 18013-4测试套件
• 访问控制、交通和智能对象:验证您的交通或访问控制应用程序的解决方案 - 由交通运营商使用
ISO 10373-6 PICC Analog测试套件
ISO 10373-6 PICC Digital测试套件
ISO 10373-6 PCD Analog测试套件
ISO 10373-6 PCD Digital测试套件
• 移动、汽车制造商:验证NFC应用的合格解决方案 - 供移动或汽车制造商使用
NFC Forum Poller&Listener Analog测试套件
NFC Forum Poller&Listener Digital测试套件
NFC Forum Initiator&Target Applicative LLCP/SNEP测试套件
当前产品:EMVCo L1非接终端测试系统